事例詳細

当事例ではお客様より、半導体製品のI-V特性の計測評価、アレイ状に多数接続したサンプルの動作監視・評価を行う基板の開発をご要望いただきました。接続された多数の半導体の中から発生する異常信号を見逃すことなく正確に測定するための非常に高難度の基板開発のご要望でした。主な要件は下記の通りです。

・多CHアナログ信号のデータ収集を行う
・微小なアナログ信号を正確に増幅し、デジタル変換する
・高電圧が発生することが想定されるため、高電圧対応の基板設計を行う
・LAN経由でホストへのデータ転送を行う

当社にて、回路設計～基板設計～組み込みソフトウェア設計～評価～製造・検査まで一貫対応しました。結果として、顧客仕様を満たすことができ、無事量産化へとつなげることができました。